MKY-XYS-III 透反射比測(cè)試系統(tǒng)

XYS-III型透反射比測(cè)試系統(tǒng)是新一代積分式透射比和反射比快速測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用高穩(wěn)定度照明光源及高精度光度傳感器，可用于A光源或D65條件下被測(cè)物體的透射比或反射比測(cè)試。該測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量精度高，速度快，可用于各種光學(xué)鏡頭、濾光片、光學(xué)玻璃等在A光源或D65條件下的透反射比的快速測(cè)量。

    XYS-III型透反射比測(cè)試系統(tǒng)包括XYS-III透反射比測(cè)試系統(tǒng)，XYP-III高精度直流穩(wěn)流電源及透射比反射比測(cè)試箱三部分。 

特點(diǎn):

采用高穩(wěn)定度照明光源和高精度光度傳感器

適用于A光源或D65兩種照明條件

可以實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量

應(yīng)用：各種光學(xué)鏡頭、濾光片、光學(xué)玻璃等在A光源或D65條件下的透反射比。 

技術(shù)指標(biāo):

標(biāo)準(zhǔn)照明體：A光源/D65

V(λ)傳感器光譜響應(yīng)達(dá)國(guó)家的一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)

準(zhǔn)直照明，積分球接收，Φ=80mm

測(cè)量范圍： 0～100%

測(cè)量精度：±0.1%

穩(wěn)定性： ±0.1%

顯示：3-1/2位LED數(shù)碼管顯示

保修期:1年

隨機(jī)附件：電源線和說(shuō)明書

MKY-XYS-III 透反射比測(cè)試系統(tǒng)